挑選汽車和工業應用的薄膜電阻

作者:Art Pini

資料提供者:DigiKey 北美編輯群

汽車、工業和電信等電子應用需要可承受惡劣環境 (包括高濕度和腐蝕性環境) 的精密元件。被動元件是這些先進設計成功的基礎,必須不斷創新以確保可靠的效能。

舉例而言,金屬薄膜晶片電阻就必須透過設計和測試,以確保在嚴峻環境中具有準確性、穩定性和可靠性。有個重大問題會影響汽車和工業市場的晶片電阻設計,那就是在有硫化合物情況下的長期可靠性。這些環境具有油、潤滑劑、燃料和其他富含硫的化合物,會讓觸點衰退,並降低晶片電阻的可靠性。

本文將探討,設計人員在針對嚴峻的汽車和工業環境挑選電阻時會面臨的挑戰。接著會介紹 YAGEO 的兩個抗硫和防潮表面黏著電阻系列,並說明其如何用來應對這些應用的挑戰。

晶片電阻的特色

晶片電阻對現代電子產品,包括汽車、工業和電信裝置來說,屬於關鍵元件。其體型小巧、精準、穩定又可靠,非常適合用於高密度電路。更具有寬廣的電阻值、容差、電阻溫度係數 (TCR) 和額定功率範圍。YAGEO 有兩個晶片電阻系列,分別為 ATRP 系列。這兩個系列均符合 AEC-Q200 要求,適合汽車應用;此規範會針對被動電子元件進行下列項目的測試:溫度、濕度、耐焊接高溫、熱衝擊和板彎曲容差。也會測試低濕度敏感性和耐硫度。

電氣規格的比較

AT 和 RP 系列表面黏著裝置 (SMD) 電阻提供四種標準表面黏著封裝:0402、0603、0805 和 1206。每個封裝的數字代號皆含有該裝置的標稱長度和寬度 (以英寸為單位) (表 1)。

SMD 封裝 尺寸 (in) 尺寸 (mm) 額定功率 (W)
0402 0.039 x 0.02 x 0.014 1.0 x 0.5 x 0.35 0.063 (1/16)
0603 0.063 x 0.031 x 0.022 1.6 x 0.8 x 0.55 0.10 (1/10)
0805 0.79 x 0.049 x 0.024 2 x 1.25 x 0.6 0.125 (1/8)
1206 0.122 x 0.063 x 0.026 3.1 x 1.6 x 0.65 0.25 (1/4)

表 1:RP 和 AT 晶片電阻系列元件的四種封裝大小之尺寸和額定功率。(表格來源:Art Pini)

額定功率隨封裝體積直接變化,介於 1/16 W 至 1/4 W。

這些封裝大小提供不同的電阻值、電阻容差、TCR 和額定電壓值。表 2 概述 AT 系列電阻的規格。

YAGEO 的 AT 系列電阻電氣特性示意圖 (按此放大)表 2:AT 系列電阻的電氣特性。(表格來源:YAGEO)

此表格列出每種封裝尺寸、TCR 和容差的可用電阻值範圍。

同樣地,RP 系列的規格也列於表 3。

YAGEO 的 RP 系列電阻電氣特性表 (按此放大)表 3:RP 系列電阻的電氣特性。(表格來源:YAGEO)

各產品系列的元件,會依據封裝尺寸、TCR、電阻值容差和電阻值進行挑選。可用電阻值的範圍會隨著其他任一規格而改變。

RP 系列的 TCR 值以步進式 ±50、±25、±15 和 ±10 ppm/°C 的方式提供。AT 系列額外提供 ±5 ppm/°C 的較低 TCR。

請注意,RP 系列裝置的可用電阻值範圍,大於或等於各個 TCR 步進的 AT 電阻範圍。

這兩個系列都提供 0.1%、0.25%、0.5% 和 1% 的容差值,這些是最常用的電阻容差。但只是,AT 系列提供三個額外的容差範圍:0.05%、0.02% 和 0.01%。這些精確的容差不太常見,並且提供的電阻值範圍更受限。

AT 和 RP 系列電阻的比較

YAGEO 的 AT0402FRE0710KL 是一款 10 kΩ、1/16 W AT 串聯電阻,TCR 為 ±50 ppm/°C,採用 0402 封裝。RP 系列的等效產品為 RP0402FRE0710KL,其具有相同的規格。產品的不同之處在於,RP 系列在此 TCR 範圍內提供 10 Ω 至 240 kΩ 的電阻值,而 AT 系列的電阻值為 10 Ω 至 100 kΩ。RP 系列在所有 TCR 值上提供此電阻範圍,而 AT 系列則針對 ±10 ppm/°C 和 ±5 ppm/°C 的 TCR 值,降低電阻範圍。

AT0603DRE0710KL 是一款採用 0603 封裝的 10 kΩ、1/10 W AT 串聯電阻。其 TCR 為 ±50 ppm/°C。RP0603DRD0710KL 是 RP 0603 系列電阻,具有相同的標稱規格,但 TCR 為 ±25 ppm/°C。RP 系列的可用電阻值範圍為 10 Ω 至 910 kΩ。AT 電阻針對兩個最高的 TCR 規格提供的電阻值範圍為 10 Ω 至 330 kΩ,但針對較低的 TCR 規格,電阻值範圍則較為受限。

AT 系列 AT0805BRD0710KL 採用 0805 封裝,是一款 10 kΩ、1/8 W 電阻,TCR 為 ±25 ppm/°C。RP 系列的等效產品為 RP0805BRD0710KL,具有相同的電阻值、容差和 TCR。同樣,RP 系列在整個 TCR 選擇範圍內具有更寬的電阻值範圍,而 AT 電阻針對較低的三個 TCR 選擇則提供較受限的範圍。

AT1206BRD0710KL 是一款 10 kΩ、1/4 W 電阻,採用 1206 封裝。其 RP 系列的等效產品是 RP1206BRD0710KL,具有相同的規格。

根據電氣規格,這些電阻系列其實相似,皆適合眾多應用。RP 系列提供更寬廣的電阻值範圍,因此適用性更大。AT 系列針對一些電阻值提供更窄的容差且具有較低的 TCR 範圍,這兩種特性都可套用到需要更高精度和準確度的應用。兩個系列在其額定功率下,皆可在 -55°C 至 +155°C 的溫度範圍內運作。請注意,如果環境溫度上升到 +70°C 以上,就必須降低額定功率 (圖 1)。

最大功耗 (PMAX) 圖,以額定功率的百分比表示,會隨工作環境溫度 (Tamb) 改變圖 1:基於兩個系列的功率降額曲線,在 70°C 以上的溫度下必須降低功率。(圖片來源:YAGEO)

環境安全與保護

AT 和 RP 產品系列均合格,可用於汽車和工業環境。其製程中使用的環氧樹脂化合物不含鹵素。此外,也不含鉛,符合 RoHS 規範。這些電阻亦使用非禁用材料以減少產生對環境有害的廢棄物。

這兩個電阻產品線在車輛和工業條件下,對濕氣和腐蝕性氣體的敏感性都很低。防潮能力的一項考量是濕度敏感等級 (MSL)。電子產業使用的這套評等制度可判定元件在 60% 至 85% 相對濕度的濕度水準下,可以暴露多長時間,並且在低於 +85°F 的溫度下,要吸收多少濕氣才無法進行波焊。在波焊過程中,滯留的濕氣會迅速膨脹,進而破壞元件,更有可能影響電路板。AT 和 RP 系列電阻的等級為 MLS 1,表示車間存放壽命無限制。更依據 AEC-Q200 進行防潮性測試。因暴露在濕氣中,兩個系列的電阻值變化都小於 ±(0.1% + 0.05 Ω)。

對晶片電阻等被動元件來說,因暴露在硫化合物中,因此污染是敏感性逐漸升高的因素之一。油、潤滑劑、油基燃料和橡膠元件或塗層都會排放硫基煙霧。這些硫化合物會與金屬 (尤其是銀) 發生反應,進而破壞晶片電阻。

耐硫性測試 (ASTM-B-809-95,修訂版) 中,包括在密閉式容器中添加一定量的硫磺粉,以打造富含硫的環境,然後讓測試元件暴露其中。容器會加熱到 +105°C,元件會暴露在此環境中 750 小時。受測的電阻接受測量,以確保其電阻值變化小於規定的限值。這兩個電阻系列皆展現出優異的耐硫性。

AT 和 RP 系列電阻之間的差異

AT 和 RP 系列電阻採用不同的設計。AT 系列是較早期的設計,其防潮和耐硫作法更為傳統。RP 系列採用較新的設計,結合了更新的建構技術和材料 (圖 2)。

YAGEO 的 AT 和 RP 系列晶片電阻結構比較圖圖 2:AT 和 RP 系列晶片電阻的結構比較,顯示出裝置防潮和抗硫方式的差異。(圖片來源:YAGEO)

這兩個系列都使用沉積在陶瓷基板上的電阻式金屬膜,如所有晶片電阻一樣。AT 電阻使用銅當作頂端電極 (C1),以減少硫蒸氣的腐蝕作用,因為銅與硫的反應不如銀強烈。電阻層和電極則使用環氧樹脂塗層密封。端蓋由鍍錫鎳製成,以確保焊接性。可針對電阻底部的銀電極達到密封並提供連接點。

憑藉對相關晶片元件的多年經驗,RP 裝置在 C1 內部電極頂端添加了聚合物銀層 (C3),以避免硫污染。如此就可採用銀材質製成的內部電極。金屬膜和腐蝕性元素之間會有一個鈍化薄層當作阻障層。鈍化是一種化學過程,會在電阻層上塗層,降低其腐蝕或受環境影響的機率。可使用環氧樹脂塗層達成密封。

RP 系列在密封製程上有所改進,因此耐硫性比 AT 系列更好。RP 裝置的硫測試規範採用較嚴格的限值,為 ±(2.0%+ 0.05 Ω),AT 限值則為 ±(4.0%+ 0.05 Ω)。這表示硫暴露造成較小的電阻值變化。

較新的電阻結構更提高了生產效率,還可降低成本並縮短前置時間。

結論

汽車、工業和電信系統需要能在惡劣環境 (包括高濕度和腐蝕性環境) 中可靠運作的精密元件。AT 和 RP 系列電阻符合 AEC-Q200 標準,非常適合這些應用。RP 系列在濕氣與硫的耐受度上有所提升,更降低價格和縮短前置時間。AT 系列可挑選電阻值,且提供更低的容差,包括 ±0.01%、±0.02% 和 ±0.05%。

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關於作者

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Art Pini

Arthur (Art) Pini 是 DigiKey 的特約撰稿人。他擁有紐約市立學院的電機工程學士學位,以及紐約市立大學的電機工程碩士學位。他在電子業有超過五十年以上的經驗,曾任職於 Teledyne LeCroy、Summation、Wavetek,以及 Nicolet Scientific 的重要工程和行銷職務。他對量測技術有所鑽研,並且在示波器、頻譜分析器、任意波形產生器、數位轉換器,以及電表方面有豐富的經驗。

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