Omron 用於 IC 測試系統與 IC 測試分類機的自動測試設備解決方案
Omron Electronic Components 提供廣泛的訊號繼電器、開關、感測器、連接器,這些都是 IC 測試系統與分類機不可或缺的元件。訊號繼電器採取小型尺寸以最佳化電路板空間,確保持續穩定的效能,進而提升測試儀器與介面板的使用壽命。Omron 為分選機構、控制面板、介面卡提供高品質開關、連接器與感測器,確保產品在整個設計過程中的可靠性。
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高電流、
低導通電阻 -
低斷態電容量 x
導通電阻 (CxR) -
耐高溫能力為
110°C 至 125°C -
低斷態
漏電流 -
低訊號
機電式繼電器
高電流、低導通電阻
Omron 為 ATE 市場設計的 MOSFET 繼電器系列具有高電流能力與低導通電阻。這些小型封裝尺寸的導通電阻低至 0.05 Ω,並可承載最高 4.5 A 的電流。此設計符合電源開關的要求,同時有效節省電路板空間。
應用:
- IC 測試系統
- IC 測試分類機
- 半導體晶圓測試系統
- 電路測試器
- 通用測試器
- 可攜式裝置和模組零件的內嵌測試設備
低斷態電容量 x 導通電阻 (CxR)
MOSFET 繼電器具有低斷態電容量與導通電阻 (CxR),以滿足 ATE 市場的需求,某些型號的 CxR 可低至 2 pF·Ω。這些小型繼電器提供精準的訊號控制,從而實現更快的切換速度,減少訊號失真,提高準確度與使用壽命。
標準邏輯
- IC 測試系統
- IC 測試分類機
- 半導體晶圓測試系統
- 電路測試器
- 通用測試器
- 可攜式裝置和模組零件的內嵌測試設備
耐高溫能力為 110°C 至 125°C
Omron 的 MOSFET 繼電器系列中,部分型號可在受測裝置高達 125°C 的環境下可靠運作,這對 ATE 市場尤為重要。這些無引線封裝型號具有多種規格,同時可最佳化電路板空間,是高溫應用的理想選擇。
應用
- IC 測試系統
- IC 測試分類機
- 半導體晶圓測試系統
- 電路測試器
- 通用測試器
- 可攜式裝置和模組零件的內嵌測試設備
低斷態漏電流
Omron 提供的 MOSFET 繼電器系列具有低斷態漏電流設計,非常適合高準確度訊號切換應用。這些小巧型號的最大斷態漏電流僅為 20 pA,有助於降低受測裝置所受到的雜訊。
應用
- IC 測試系統
- IC 測試分類機
- 半導體晶圓測試系統
- 電路測試器
- 通用測試器
- 可攜式裝置和模組零件的內嵌測試設備
低訊號機電式繼電器
Omron 的低訊號機電式繼電器具有小巧尺寸與 SMT 設計。屏蔽式型號可用於 RF 切換,採用 DPDT 類型設計,可確保長期耐用性與高觸點可靠性,維持良好的訊號完整性。
應用
- IC 測試與量測

